壓電元器件介電參數(shù)測試儀
壓電元器件介電參數(shù)測試儀用來測量壓電陶瓷材料在高頻、高電壓下的介電常數(shù)及介電損耗功能。該儀器以鎖相放大器原理運作，能夠分析容性和感性負載，特別是旁路電抗器。用戶可以手動和自動模式之間進行選擇。手動模式可進行快速的測量，而自動模式則支持自動化試驗序列
全套系統(tǒng)是基于電介質介電響應理論，集介電響應測試與絕緣狀態(tài)評估及診斷一體的綜合絕緣分析系統(tǒng)。該儀器的測試頻率范圍為1mHz~10kHz，且在低頻范圍內(nèi)可以選用快速測試方式，在保證測試精度的前提下，大幅減少實驗室測量時的等待時間及現(xiàn)場測量的停電時間。內(nèi)置的工業(yè)計算機具有標準的接口（如USB）,使得測量結果和數(shù)據(jù)處理的非常方便，以供進一步的分析和報告
依據(jù)標準
GB/T 3389-2008《壓電陶瓷材料性能測試方法 性能參數(shù)的測試》
產(chǎn)品特點
1.準確度：電容 0.02%, 介損 1×10-6
2.信號分析功能：圖譜分析，數(shù)字示波器和數(shù)據(jù)記錄功能均已被集成
3.是一款針對此類試驗的優(yōu)化產(chǎn)品
4.緊湊，可靠，并具備EMC固化設計
5.集成解決方案，內(nèi)置工業(yè)電腦
6.用戶可以手動和自動模式之間進行選擇
產(chǎn)品優(yōu)勢
1、手動與自動模式都操作簡便，軟件輔助試驗準備，執(zhí)行和趨勢分析
2、能提供完整的測量系統(tǒng)，包括：標準電容，標準損耗器、測試電極
3、能測量不同頻率下的類型絕緣材料介電常數(shù)及損耗
4、系統(tǒng)采用高壓功率放大器及鎖相放大器技術
軟件功能
1. 操作簡單
系統(tǒng)采用12寸TFT，800*600分辨率，集成觸摸屏電容式觸摸屏，多參數(shù)顯示、設置、測試結果、狀態(tài)等可以在同一屏顯示，操作簡單
2. 序列模式
測試序列，用戶可以通過外接電腦的方式進行測試序列的編寫進行自動化測試，也可以采用內(nèi)置的測量功能進行按照示意圖的方式進行
一個試驗序列通常包括如下指令：
? 設置：被測器件（DUT）類型、絕緣材料種類、溫度修正、序列號、測
試人員等
? 測試電平：設定所需的不同測試電平
? 定義被記錄的測量值，如：電壓、頻率、介損、功率因數(shù)、電流、絕緣
材料溫度
? 測試指令：指令結合圖片一步一步指導實驗人員
3.分析功能
測量數(shù)據(jù)的圖形顯示使得該儀器成為一款高壓設備分析的工具
分析功能能用作以下方面：
? 與限定值對比（通過/未通過）
? 趨勢分析（一段時間內(nèi)對比）
? 不同樣品對比 - 針對于不同試品或頻率的一系列測量曲線
? 可定義的軸（比如 介損對電壓，電容對電壓，介損對時間等）
4.信號分析
集成的信號分析工具，有助于諸如產(chǎn)品研發(fā)過程中的樣品測量和型式試驗。系統(tǒng)分析曲線、圖譜并顯示用戶所選測量值的緩慢走勢（數(shù)據(jù)記錄）
5.報告
全部測試結果和測試對象數(shù)據(jù)保存并處理XML或CSV格式，便于顯示、打印測試報告并傳輸至數(shù)據(jù)庫應用軟件
產(chǎn)品參數(shù)
耗散因數(shù)(tanδ)：0 ~ 100；顯示分辨率：1x10-7
功率因數(shù)(cosφ)：0 ~ 1；顯示分辨率：1x10-6
電容：≤10nF(1kHz)
≤1uF(50Hz)
電感：≤ 1 kH
測試電壓：上限2000V
測試電流@輸入Cn：1pA~ 100 mA
測試電阻：上限100TΩ
測試頻率：1mHz~10kHz
運行溫度：-10~50℃
存儲溫度：-20~50℃
濕度：5~95％ 相對濕度，不結露
公司簡介
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd. is a national high-tech enterprise, abbreviated as Hua Ce Instrument. It is a company engaged in research and development, production and manufacturing. The company has a functional materials electrical laboratory and an electrical insulation materials electrical laboratory.
The products involve material testing instruments, signal amplification and conditioning, data acquisition and control, comprehensive performance evaluation of sensors, etc.
