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華測(cè)儀器多通道電流矩陣模塊產(chǎn)品說(shuō)明

日期:2026-03-10 01:36
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摘要:華測(cè)儀器多通道電流矩陣模塊憑借模塊化、高密度的設(shè)計(jì),成為應(yīng)對(duì)并行化測(cè)試、自動(dòng)化產(chǎn)線(xiàn)及復(fù)雜實(shí)驗(yàn)場(chǎng)景的重要解決方案。該模塊專(zhuān)注于多路電流通道的獨(dú)立控制,支持同時(shí)輸出或吸入可調(diào)的直流電流,通過(guò)***矩陣開(kāi)關(guān)架構(gòu),用戶(hù)可自由配置各通道的電流值(覆蓋pA至mA級(jí))、工作模式(恒流/脈沖/掃描)及通斷時(shí)序,為各類(lèi)測(cè)試需求提供支持。 該模塊本身不進(jìn)行電流測(cè)量,而是作為核心組件,為靜電計(jì)(如Keithley 6517B、6430、6485/6487)或源測(cè)量單元提供可靠、低噪聲、低熱電動(dòng)勢(shì)(EMF)的通道擴(kuò)展能力。借助這一功能,用戶(hù)可將單臺(tái)昂貴的儀表升級(jí)為高效的多通道自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),無(wú)論是研發(fā)實(shí)驗(yàn)室開(kāi)展材料特性分析,還是生產(chǎn)線(xiàn)上進(jìn)行半導(dǎo)體器件批量測(cè)試,都能提升測(cè)試效率、保證數(shù)據(jù)一致性。

 華測(cè)儀器多通道電流矩陣模塊產(chǎn)品說(shuō)明


在電流控制與測(cè)試領(lǐng)域,華測(cè)儀器多通道電流矩陣模塊憑借模塊化、高密度的設(shè)計(jì),成為應(yīng)對(duì)并行化測(cè)試、自動(dòng)化產(chǎn)線(xiàn)及復(fù)雜實(shí)驗(yàn)場(chǎng)景的重要解決方案。該模塊專(zhuān)注于多路電流通道的獨(dú)立控制,支持同時(shí)輸出或吸入可調(diào)的直流電流,通過(guò)的矩陣開(kāi)關(guān)架構(gòu),用戶(hù)可自由配置各通道的電流值(覆蓋pA至mA級(jí))、工作模式(恒流/脈沖/掃描)及通斷時(shí)序,為各類(lèi)測(cè)試需求提供支持。

該模塊本身不進(jìn)行電流測(cè)量,而是作為核心組件,為靜電計(jì)(如Keithley 6517B、6430、6485/6487)或源測(cè)量單元提供可靠、低噪聲、低熱電動(dòng)勢(shì)(EMF)的通道擴(kuò)展能力。借助這一功能,用戶(hù)可將單臺(tái)昂貴的儀表升級(jí)為多通道自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),無(wú)論是研發(fā)實(shí)驗(yàn)室開(kāi)展材料特性分析,還是生產(chǎn)線(xiàn)上進(jìn)行半導(dǎo)體器件批量測(cè)試,都能提升測(cè)試效率、保證數(shù)據(jù)一致性。

一、產(chǎn)品特點(diǎn)

高通道密度,節(jié)省空間與成本:?jiǎn)螜C(jī)箱可支持128通道,相比傳統(tǒng)多設(shè)備組合方案,能節(jié)省90%的設(shè)備空間,同時(shí)大幅降低機(jī)柜購(gòu)置與線(xiàn)纜鋪設(shè)成本,尤其適合空間有限的實(shí)驗(yàn)室或產(chǎn)線(xiàn)環(huán)境。
高速切換,適配動(dòng)態(tài)測(cè)試:矩陣開(kāi)關(guān)切換時(shí)間僅20ms,可輕松支持動(dòng)態(tài)負(fù)載切換與高速掃描測(cè)試,減少測(cè)試流程中的等待時(shí)間,提升整體測(cè)試節(jié)奏。
靈活擴(kuò)展,滿(mǎn)足多樣需求:支持熱插拔通道卡。以8通道為基礎(chǔ)增量,從8通道起步,用戶(hù)可根據(jù)實(shí)際測(cè)試規(guī)模按需調(diào)整通道數(shù)量,避免資源浪費(fèi)。
低電容設(shè)計(jì),加速信號(hào)穩(wěn)定:采用低電容設(shè)計(jì),有助于快速建立穩(wěn)定的測(cè)量信號(hào),縮短信號(hào)穩(wěn)定所需時(shí)長(zhǎng),進(jìn)一步優(yōu)化測(cè)試效率,保障測(cè)試流程順暢推進(jìn)。
寬動(dòng)態(tài)范圍,低干擾與誤差:信號(hào)路徑可在±1pA至±100mA的寬動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)切換信號(hào),在此過(guò)程中引入的干擾和誤差較小,既能滿(mǎn)足高阻值材料漏電測(cè)試的精細(xì)需求,也能適配一般電子元件特性分析的常規(guī)場(chǎng)景。
優(yōu)化設(shè)計(jì),保障微弱電流測(cè)試:通過(guò)低熱電動(dòng)勢(shì)(<1μV)設(shè)計(jì),減少熱電效應(yīng)對(duì)微弱直流測(cè)量的影響;采用極低漏電流路徑(典型值< 1fA),為pA級(jí)微弱電流測(cè)量提供數(shù)據(jù)保障;同時(shí),優(yōu)化的布線(xiàn)設(shè)計(jì),能降低串?dāng)_和外部噪聲干擾,為測(cè)試環(huán)境提供穩(wěn)定支持。

二、詳細(xì)參數(shù)規(guī)格

產(chǎn)品型號(hào):HC-PAX
通道數(shù)量:基礎(chǔ)單元為8通道,單機(jī)箱支持128通道;若需更大規(guī)模測(cè)試,可擴(kuò)展至8臺(tái)機(jī)箱協(xié)同工作,總通道數(shù)可達(dá)1024通道,滿(mǎn)足超大批量測(cè)試需求。
電流范圍:覆蓋±1pA至±100mA,寬范圍適配不同量級(jí)的電流控制與信號(hào)切換需求。
接口配置:電流接口分口采用8芯雷莫接口,總口采用BNC接口,符合行業(yè)通用標(biāo)準(zhǔn),方便與各類(lèi)高精度儀表、測(cè)試設(shè)備連接;通信接口為RS485,保障設(shè)備間數(shù)據(jù)傳輸穩(wěn)定,便于融入自動(dòng)化控制系統(tǒng)。
供電要求:支持100-240V AC寬幅交流供電,適配不同地區(qū)電網(wǎng)電壓標(biāo)準(zhǔn),頻率兼容50/60Hz;單機(jī)箱*大功耗僅60W,能耗較低,長(zhǎng)期使用成本可控。
外形與環(huán)境適應(yīng):外形尺寸為長(zhǎng)44cm×寬13.5cm×高30cm(不含所有凸起),結(jié)構(gòu)緊湊,易于集成安裝;工作溫度范圍為10℃~+50℃,工作濕度為40%~60% RH且無(wú)冷凝,能在多數(shù)實(shí)驗(yàn)室、產(chǎn)線(xiàn)常規(guī)環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行,環(huán)境適應(yīng)性較強(qiáng)。

三、廣泛應(yīng)用領(lǐng)域

高阻材料與元件測(cè)試:可用于絕緣材料、陶瓷、薄膜、高阻值電阻等產(chǎn)品的電阻率及漏電流自動(dòng)化測(cè)量,為相關(guān)材料與元件的質(zhì)量檢測(cè)、性能分析提供支持。
半導(dǎo)體器件特性分析:針對(duì)晶體管、二極管的漏電流測(cè)試,電容漏電檢測(cè),以及晶體級(jí)可靠性測(cè)試等場(chǎng)景,提供穩(wěn)定的通道切換功能,助力獲取測(cè)試數(shù)據(jù)。
傳感器測(cè)試與標(biāo)定:適配光電二極管暗電流測(cè)試、電化學(xué)傳感器與生物傳感器電流檢測(cè),以及輻射探測(cè)器電流測(cè)量等需求,為傳感器的性能測(cè)試與標(biāo)定提供助力。
電池與儲(chǔ)能測(cè)試:可應(yīng)用于電池自放電電流監(jiān)測(cè),以及電池模組、Pack的絕緣電阻測(cè)試,為電池與儲(chǔ)能產(chǎn)品的性能、續(xù)航能力評(píng)估提供數(shù)據(jù)支撐。
靜電與ESD研究:支持防靜電材料電阻率測(cè)量與靜電荷衰減測(cè)試,為靜電防護(hù)材料研發(fā)與ESD相關(guān)研究提供可靠的測(cè)試條件。
光電與光伏器件測(cè)試:適用于太陽(yáng)能電池暗電流測(cè)試、LED/OLED微弱漏電流檢測(cè),以及探測(cè)器陣列測(cè)試等場(chǎng)景,推動(dòng)光電與光伏領(lǐng)域產(chǎn)品的研發(fā)與質(zhì)量管控。
環(huán)境監(jiān)測(cè)與科學(xué)儀器:可用于電離室電流采集,以及多通道微弱信號(hào)切換,為環(huán)境監(jiān)測(cè)設(shè)備與各類(lèi)科學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器提供穩(wěn)定的信號(hào)傳輸與切換解決方案。
多器件并行參數(shù)測(cè)試:配合源表設(shè)備,能夠?qū)崿F(xiàn)批量器件的I-V掃描、導(dǎo)通電阻測(cè)量等并行參數(shù)測(cè)試,大幅提升批量器件測(cè)試效率,降低測(cè)試成本。

四、典型應(yīng)用案例

搭建高通道測(cè)試系統(tǒng):借助該模塊,用戶(hù)可輕松構(gòu)建高通道數(shù)的微弱電流/高阻自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),滿(mǎn)足多樣品同時(shí)測(cè)試的需求,尤其適合材料研發(fā)與元件篩選階段的測(cè)試。
提升儀表利用效率:將靜電計(jì)通過(guò)模塊擴(kuò)展為多通道測(cè)試系統(tǒng),無(wú)需額外購(gòu)置多臺(tái)高價(jià)儀表,即可實(shí)現(xiàn)多通道測(cè)試功能,顯著提升現(xiàn)有儀表的利用率,降低設(shè)備投入成本。
實(shí)現(xiàn)無(wú)人值守測(cè)試:支持長(zhǎng)時(shí)間、多樣品連續(xù)測(cè)試,配合自動(dòng)化控制程序,可實(shí)現(xiàn)無(wú)人值守測(cè)試模式,減少人工干預(yù),避免人為操作誤差,同時(shí)保證不同樣品測(cè)試數(shù)據(jù)的一致性和可比性。
捕捉微弱電流變化:憑借的低干擾、低漏電流設(shè)計(jì),能夠捕捉pA級(jí)甚至fA級(jí)的微弱電流變化,電子等領(lǐng)域?qū)ξ⑷蹼娏餍盘?hào)檢測(cè)的要求,為技術(shù)研發(fā)提供數(shù)據(jù)支持。
華測(cè)儀器多通道電流矩陣模塊以其性?xún)r(jià)比、可靠性與廣泛適配性,為各行業(yè)用戶(hù)的電流測(cè)試需求提供助力。



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