功能薄膜表面電位衰減測試系統
產品介紹
表面電位衰減測試系統是一款面向材料電學特性研究的高準度、多功能分析設備，為評估介質材料表面電荷動態衰減行為及陷阱能級分布而設計，集高壓極化、準確溫控、快速信號采集及智能化分析于一體，支持針、柵、板三種電極配置，可模擬不同溫濕度環境下的材料電荷動態響應，為絕緣材料、功能薄膜、電子器件等領域的研發與質量控制提供數據支持
應用領域
絕緣材料研發
評估高壓電纜、電容器薄膜等介電材料的耐壓性能與電荷消散特性
功能薄膜分析
研究光伏背板、柔性電子器件的表面電荷行為及陷阱效應
半導體器件優化
表征柵極介質層、封裝材料的電荷陷阱分布，提升器件可靠性
科研與教育
高校及實驗室用于電介質物理、材料科學等領域的基礎研究與教學實驗
電力設備質檢
檢測絕緣子、變壓器套管等電力裝備的絕緣老化狀態及壽命預測
公司簡介
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd. is a national high-tech enterprise, abbreviated as Hua Ce Instrument. It is a company engaged in research and development, production and manufacturing. The company has a functional materials electrical laboratory and an electrical insulation materials electrical laboratory.
The products involve material testing instruments, signal amplification and conditioning, data acquisition and control, comprehensive performance evaluation of sensors, etc.
