華測(cè)儀器 能量密度分析新材料電學(xué)測(cè)試儀 

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

能量密度分析新材料電學(xué)測(cè)試儀由華測(cè)儀器 生產(chǎn)，可以通過(guò)各功能測(cè)試模塊，系統(tǒng)地幫助科研人員從能量密度、功率密度、循環(huán)壽命、防護(hù)性四個(gè)方面對(duì)新材料性能進(jìn)行分析檢測(cè)，評(píng)估材料的性能指標(biāo)，判斷是否符合應(yīng)用要求，該儀器測(cè)試效率高，應(yīng)用廣泛。

測(cè)試模塊

01 高低頻介電頻譜、溫譜

設(shè)備可用于分析寬頻、高低溫環(huán)境下儲(chǔ)能新材料的阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，同時(shí)還可以分析被測(cè)樣品隨溫度、頻率、時(shí)間、偏壓變化的曲線(xiàn)。

02 高溫絕緣電阻

在高低溫環(huán)境下，設(shè)備準(zhǔn)確的電壓輸出與電流測(cè)量也能很好的障蔽背景電流，保障測(cè)試品質(zhì)，適用于儲(chǔ)能新材料在不同環(huán)境溫度下絕緣性能的檢測(cè)。

03 熱釋電測(cè)試

不論是薄膜還是塊體形式的儲(chǔ)能材料，設(shè)備都可對(duì)其進(jìn)行熱釋電性能測(cè)試，采用電流法進(jìn)行測(cè)量，測(cè)試得出材料的熱釋電電流、熱釋電系數(shù)、剩余極化強(qiáng)度以及相應(yīng)溫度和時(shí)間下的曲線(xiàn)。

04 TSDC熱刺激極化電流

熱刺激電流（TSC）是研究熱釋電材料中陷阱結(jié)構(gòu)和陷阱結(jié)構(gòu)所控制的空間電荷存貯及運(yùn)輸特性的工具，同時(shí)也是研究熱點(diǎn)材料結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)變和分子運(yùn)動(dòng)的重要手段，諸如：分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等，設(shè)備通過(guò)TSDC技術(shù)也可以直觀的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)介電特性。

05 充放電儲(chǔ)能密度測(cè)試

設(shè)備也可用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能，設(shè)備采用適配的電容放電電路來(lái)測(cè)量，首先將測(cè)試材料充電到給定電壓，之后通過(guò)閉合高速M(fèi)OS高壓開(kāi)關(guān)，將存儲(chǔ)在儲(chǔ)能材料中的能量釋放到電阻器負(fù)載中，使得測(cè)試更符合電介質(zhì)充放電原理。

06 電聲脈沖法空間電荷測(cè)量

電聲脈沖法（PEA）空間電荷測(cè)試可以便捷準(zhǔn)確地測(cè)量固體儲(chǔ)能材料內(nèi)部空間電荷分布,電聲脈沖法可以測(cè)量較厚的介質(zhì)，可以在帶電狀態(tài)下直接測(cè)量絕緣測(cè)試樣品中的空間電荷分布，可測(cè)空間電荷密度至小為4μC·cm-3,可測(cè)試樣厚度至小為0.2mm。

07 靜電電壓

設(shè)備能夠?qū)?chǔ)能材料的靜電性能（包括面電荷密度與電阻）進(jìn)行測(cè)試，可以對(duì)后期防靜電工程設(shè)計(jì)和改善儲(chǔ)能系統(tǒng)的抗靜電性能設(shè)計(jì)提供數(shù)據(jù)支持，對(duì)周?chē)娐返撵o電敏感電子元器件選型提供參考依據(jù)。

應(yīng)用領(lǐng)域

華測(cè)儀器 高低頻儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試儀具有寬溫域與多環(huán)境模擬，多參數(shù)同步，模塊化與智能化控制等特點(diǎn)，可應(yīng)用于介電儲(chǔ)能材料開(kāi)發(fā)、新能源與電力設(shè)備、半導(dǎo)體與電子器件、材料研究等領(lǐng)域。